“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术讲座一：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择

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发布时间：2018-06-06 14:25:04

讲座名称：	“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术讲座一：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择
讲座时间	2018-06-06
讲座地点	分析测试共享中心一楼北109培训教室
讲座人	李廷
讲座内容	讲座名称：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择讲座时间：2018年6月6日（星期三）14:30 讲座地点：分析测试共享中心一楼北109培训教室讲座人：李廷讲座内容：从扫描电子显微镜的构造阿、原理及观察过程介绍开始，帮助用户深入了解SEM的功能；重点通过具体案例讲解如何针对不同材料的模式和电镜参数选择，获得理想的电镜结果；对常见的图像“异常”原因进行分析并给出主要的解决办法。另外，介绍几种常用的制样工具与设备，并通过案例讲解特殊制样技巧。
讲座人介绍	李廷，天美（中国）科学仪器有限公司电镜应用工程师，长期从事扫描电镜、透射电镜以及电镜周边附属设备的应用和技术支持工作。曾长期在浮法新技术国家重点实验室测试中心工作，尤其擅长半导体和绝缘体等导电性差的复杂样品电镜测试。
讲座视频	暂无视频

“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术 讲座一：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择