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采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估
【作者】 徐宇亮 [1,3] ; 陈西宏 [1] ; 孙际哲 [1] ; 刘瑞峰 [2] ; 范浩 [2]
【关键词】 复杂电子设备 加速退化试验 可靠性评估 退化模型 虚拟样本
【摘要】对复杂电子设备进行可靠性评估时,针对退化特征量难以确定和试验样本数目有限这两方面的困难,提出了一种基于虚拟样本加速退化试验（ADT）的电子设备可靠性评估新方法。将相对贴近度的概念引入到退化监测数据的处理中,以相对贴近度为退化特征量,并对原始样本进行虚拟增广,同时对增广样本数据加以修正处理,从而形成电子设备各应力下的退化轨迹。将该方法与传统的可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速退化试验中极少样本数据的处理问题。实例分析表明：电子设备的预测寿命与出厂时标定使用寿命的误差为5.93%,86.27%的样品设备使用寿命超过9a,说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比。
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