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粗糙导体表面提取印刷电路板介质参数的微分外推方法
【作者】 贾琦 黄斌科 西安交通大学电子与信息工程学院 西安710049
【关键词】 印刷电路板 表面粗糙 表面阻抗 微分外推 介质参数
【摘要】针对在高速传输／互连结构中小尺寸印刷电路板（PCB）金属导带表面粗糙对信号传输损耗和相移影响增大的问题，提出了一种宽频带下提取PCB板介质参数的方法。该方法基于带状线模型，首先计算表面光滑导体和粗糙导体时的表面阻抗；然后利用表面阻抗计算表面粗糙导体模型的传播常数；最后借助微分外推方法分离光滑导体下的传播常数，从而在宽频带下提取介质基板的介电常数和损耗角正切。仿真结果表明：在从直流到20GHz的频带上，分离导体表面粗糙影响后，提取的介电常数和损耗角正切与实际采用的聚四氟乙烯材料参数相比，在1MHz下，相对介电常数误差为2％，损耗角正切为5％；在10-20GHz的高频范围内，相对介电常数最大误差为1％，损耗角正切最大误差为8．6％。该方法基于等效表面阻抗理论，在保证计算精度的同时，有效地节约了计算资源，适于在宽频带下提取PCB板的介质参数。
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